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  • 3504-60 C測(cè)試儀
    3504-60 C測(cè)試儀 3504-60 C測(cè)試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
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    更新日期

    2023-11-12
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    廠商性質(zhì)

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  • 3504-50 C測(cè)試儀
    3504-50 C測(cè)試儀 3504-50 C測(cè)試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
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  • 3504-40 C測(cè)試儀
    3504-40 C測(cè)試儀 3504-40 C測(cè)試儀 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
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  • 3506-10 LCR測(cè)試儀
    3506-10 LCR測(cè)試儀 3506-10 LCR測(cè)試儀 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試 ● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量 ● 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 ● 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量 ● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
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    2023-11-12
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  • 3511-50 LCR測(cè)試儀
    3511-50 LCR測(cè)試儀 3511-50 LCR測(cè)試儀精巧,非常專業(yè),5ms快速測(cè)量LCR ● 高速測(cè)量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) ● 高精度: ± 0.08% ● 內(nèi)置比較器
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  • IM3533 LCR測(cè)試儀
    IM3533 LCR測(cè)試儀 IM3533 LCR測(cè)試儀基本精度±0.05%,測(cè)量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下,不間斷測(cè)試,速度比以往產(chǎn)品快10倍。
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